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JEDEC JESD22-C101-A-2000  电场感应带电器件模型试验方法静电放电耐受微电子元件的阈值

标准编号:JEDEC JESD22-C101-A-2000
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中文标准名称:电场感应带电器件模型试验方法静电放电耐受微电子元件的阈值
英文标准名称:field-induced charged-device model test method for electrostatic-discharge-withstand thresholds of microelectronic components
语言:英文版,中文版
实施日期:2000-06-01
标准类别:电子元件工业联合会JEDEC
中国标准文献分类法(中标分类CCS):
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添加时间:2012/11/23
 
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