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BS EN 60749-28-2017  Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivi...

标准编号:BS EN 60749-28-2017
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英文标准名称:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). Device level
首次发布日期:确认有效
采用国际标准编号:EN 60749-28-2017,IEC60749-28-2017
语言:英文版, 中文版
发布日期:10 July 2017
标准类别:英国标准BS

国际标准分类法(ICS):电子学>>半导体器件>>半导体器件综合
标准页数:48
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