您的位置: 首页 > 国外标准 > 英国标准BS >  BS EN 60749-28-2017  Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivi
 

BS EN 60749-28-2017  Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivi

标准编号:BS EN 60749-28-2017
分享到:

中文标准名称:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivi
英文标准名称:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). Device level
首次发布日期:确认有效
采用国际标准编号:EN 60749-28-2017,IEC60749-28-2017
语言:英文版, 中文版
发布日期:10 July 2017
标准类别:英国标准BS
中国标准文献分类法(中标分类CCS):
国际标准分类法(ICS):电子学 >> 半导体器件 >> 半导体器件综合
标准页数:48
引用标准:IEC 60749-26-2013 ED3, EN 60749-26 (IEC 60749-26-2013) AS
文件格式:纸质版或者PDF电子版(用Acrobat Reader打开)或Word版本doc格式
PDF格式 BS EN 60749-28-2017 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivi 免费下载 Word格式 BS EN 60749-28-2017 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivi 免费下载免费标准下载
文件大小:972 KB
添加时间:2017/11/09
 
本类标准下载排行
 
 
本类最新免费标准
 
免费标准下载网 |标准分享网 |联系我们
版权所有:www.ZBGB.org